半导体pn型的测定有几种方法

通常是用霍尔效应来测量。霍尔效应是指在磁场中，通电导体会出现横向电压的现象，详细可以到百度百科去查。
多子为电子的n型和多子为空穴的p型半导体，由于载流子的正负属性不同，会使横向电压方向不同，从而可以测出类型。